2026年10月31日 · 北京 · 第二届光学成像与检测技术国际学术会议（OIDT 2026）
2026年10月30日至11月1日，第二届光学成像与检测技术国际学术会议（OIDT 2026）在北京举行。作为光学成像与检测领域的重要交流平台，本届会议汇聚来自高校、科研院所与产业界的专家学者，围绕前沿成像技术、精密检测方法与产业化路径展开讨论。
作为本届会议主要支持单位之一，北京展望视野科技有限公司（ZWSYTECH）深度参与会议：展台上，科研级 X 射线 CMOS 成像方案引来同行驻足；讲台前，一份关于科研 CT 演进路径的报告引发共鸣；会场内外，一场场关于「如何让实验室看得更清」的对话持续进行。
01 展台之上：让产品自己说话
会议期间，展望视野展台集中呈现了公司面向科研与工业检测的成像产品系列，从多型号像素阵列的标品机型，到可定制闪烁体与入射窗口的成像模组，覆盖微米级显微 CT 到小样品科研 CT 的完整应用场景。
现场交流没有停留在参数表。团队围绕分辨率、读出噪声、帧频、触发同步等工程细节，与来访专家逐一拆解实际工况，把指标翻译成可落地的解决方案。
从大面阵到小型化，从标品到定制模组，每一台样机背后对应的是一类具体的科研问题：样品有多小、能段有多低、腔体有多窄、时间分辨率要多高。「智检未来，精准成像」——这句写在展板上的话，不只是一句口号，更是公司对每一台设备、每一次成像品质的郑重承诺。
02 面对面：总经理武铎善与业内专家的深度探讨
会议期间，展望视野总经理武铎善与到场的业内专家、学者进行了深度交流与探讨。议题紧贴产业真问题：
• 光学成像技术在工业检测与科研场景中的落地路径；
• 高分辨率、高灵敏度成像背后的核心技术瓶颈；
• 成像器件与重建算法协同优化的可行方向；
• 国产核心部件如何更好匹配科研项目的进度与成本要求。
从实验室指标到产线稳定性，从单点技术突破到系统级方案构建，双方在充分交换观点的基础上，就后续开展联合验证与专项研讨达成共识。对展望视野而言，这样的面对面交流弥足珍贵——它让产品定义始终锚定真实的工程需求，也让研发路线图不断被前沿视角校准。
03 讲台之上：解码科研 CT 的演进与机遇
同日，展望视野项目总监丁利受邀作特邀报告《科研CT演进与X光CMOS相机机遇》，系统梳理了科研 CT 的技术演进脉络，并直面当前成像器件的核心瓶颈。
报告给出的核心判断是：科研 CT 正在从「整机黑盒」走向「组件开放」。早期工业 CT 以整机采购为主，系统软硬件深度绑定；而随着新材料、半导体、储能与增材制造等领域的研究需求不断细化，越来越多科研团队开始选择自研搭建——高端定制 CT 与实验室 DIY 双轨并行，已成明确趋势。
变化背后，是科研场景对探测器提出了不同于工业检测的要求：不再只求开箱即用，而要能拿到未经处理的原始投影数据、能自定义扫描时序与曝光策略、能适配原位环境舱与特殊能段的实验条件，也要能与旋转台、光源完成精确的时序协同。
在器件路线上，报告并未把平板探测器与 X 光 CMOS 相机写成简单的替代关系：前者成熟可靠、视场大，仍是常规工业检测与中大样品检测的主流；后者则在弱信号高灵敏探测、原始裸数据开放、紧凑模块化集成与按课题定制闪烁体／入射窗口等方面更贴合前沿科研，尤其适合显微成像、原位动态与算法自研类课题。两条路线，按样品与课题分工。
报告也点明了 DIY 科研 CT 真正的难点不在"能不能买到零件"，而在成像探测器选型决定系统分辨率与信噪比的上限，以及光源、样品台、相机之间的多设备时序同步——这恰是国产核心部件厂商需要补齐的一环。
会议同期，项目总监丁利获颁大会邀请报告证书。这份认可，既是对个人技术积累的肯定，也是对展望视野长期深耕工业成像赛道的印证。
04 不做整机黑盒，只做最关键的那只「眼睛」
与报告一脉相承的，是展望视野的产品定位：不做整机，聚焦 DIY 科研 CT 里最关键的成像核心。公司围绕科研级 X 射线 CMOS 成像，形成标品机型、定制化成像模组与标定测试组件三类产品形态，并提供从前期选型咨询、集成联调与开发支持，到成像链路仿真、现场标定培训、长期维护升级及科研项目配套的全流程服务——让实验室不必从零摸索，也能搭出最适合自己的科研 CT。
05 写在最后
OIDT 2026 是一次相聚，也是一次校准。感谢每一位来到展台、提出问题、给出建议的专家与同行，也感谢会议主办方搭建的交流平台。展望视野将继续以「智检未来，精准成像」为方向，把光学成像这件事做得更清晰、更稳定、更可交付。
期待下一次相聚。
北京展望视野科技有限公司 ZWSYTECH
智检未来 精准成像